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flag Aehr Test Systems obtiene un pedido clave de semiconductores para su sistema de pruebas de dispositivos GaN.

flag Aehr Test Systems recibió una orden de producción inicial para su sistema de prueba a nivel de oblea FOX-XP y de combustión de un proveedor líder de semiconductores para automóviles. flag El sistema, diseñado para dispositivos de nitruro de galio (GaN) usados en aplicaciones automotrices, solares y centros de datos, comenzará a enviarse en breve. flag Se espera que los dispositivos GaN crezcan significativamente, y se prevé que el mercado alcance los 2.500 millones de dólares para el año 2029.

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