Nearfield Instruments lanza el 'Modo Lightning' para QUADRA, un sistema de metrología AFM más rápido para dispositivos semiconductores avanzados. Nearfield Instruments launches 'Lightning Mode' for QUADRA, a faster AFM metrology system for advanced semiconductor devices.

Nearfield Instruments lanza el 'Modo Lightning' para QUADRA®, el sistema de metrología AFM de mayor rendimiento para dispositivos semiconductores avanzados. Nearfield Instruments launches 'Lightning Mode' for QUADRA®, the highest-throughput AFM metrology system for advanced semiconductor devices. QUADRA ahora está completamente calificado e implementado para la fabricación de alto volumen, ofreciendo metrología 3D no destructiva para memoria, procesos lógicos y estructuras de alta relación de aspecto. QUADRA is now fully qualified and deployed for high-volume manufacturing, offering 3D non-destructive metrology for memory, logic processes, and high-aspect-ratio structures. Esta innovación acelera el tiempo de producción y la optimización y el control del rendimiento de HVM. This innovation accelerates time-to-yield and HVM yield optimization and control.

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